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碳化硅SIMS测量| EAG实验室
来自 : eaglabs.com.cn/zh-CN/resources
发布时间:2021-03-24
单个SiC颗粒的SIMS分析用于准确的大块浓度测量 使用特殊的样品制备技术和新的SIMS分析方案,可以分析SiC粉末样品中尺寸范围从100μm到500μm的单个SiC颗粒。 这种创新...碳化硅SIMS测量为晶圆生长和器件制造中的过程控制和问题解决提供了有价值的数据。碳化硅SIMS测量
本文链接: http://simsitaly.immuno-online.com/view-701369.html
发布于 : 2021-03-24
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